期刊:J Electron Imaging
| 期刊ISSN | 1017-9909 |
| 期刊全称 | Journal Of Electronic Imaging |
| 期刊缩写 | J Electron Imaging |
| 影响因子 | 0.754 |
| 自 引 率 | 14.20% |
| SCI 收录情况 | SCIE收录; |
| ESI 学科分类 | 工程科学(Engineering) |
| 中科院大类分区 | 工程技术:4区 |
| 中科院小类分区 | 工程:电子与电气 4区 成像科学与照相技术 4区 光学 4区 |
| 是否Top期刊 | 否 |
| 是否综述期刊 | 否 |
| 官方网站 | http://spie.org/x868.xml |
| 投稿网站 | http://jei.peerx-press.org/cgi-bin/main.plex |
| 通讯地址 | I S & T - Soc Imaging Science Technology, 7003 Kilworth Lane, Springfield, Usa, Va, 22151 |
| 所属国家 | United States |
| 出版周期 | Quarterly |
| 创办年份 | 1992年 |
| 年文章数 | 186 |
| 是否开放访问 | 不开放访问 |
| PubMed链接 | http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=1017-9909%5BISSN%5D |
| 平均审稿速度 | 网友分享经验:平均4.0个月 |
| 平均录用比例 | 网友分享经验:容易 |
| 历年影响因子 |