期刊:J Electron Imaging
期刊ISSN | 1017-9909 |
期刊全称 | Journal Of Electronic Imaging |
期刊缩写 | J Electron Imaging |
影响因子 | 0.754 |
自 引 率 | 14.20% |
SCI 收录情况 | SCIE收录; |
ESI 学科分类 | 工程科学(Engineering) |
中科院大类分区 | 工程技术:4区 |
中科院小类分区 | 工程:电子与电气 4区 成像科学与照相技术 4区 光学 4区 |
是否Top期刊 | 否 |
是否综述期刊 | 否 |
官方网站 | http://spie.org/x868.xml |
投稿网站 | http://jei.peerx-press.org/cgi-bin/main.plex |
通讯地址 | I S & T - Soc Imaging Science Technology, 7003 Kilworth Lane, Springfield, Usa, Va, 22151 |
所属国家 | United States |
出版周期 | Quarterly |
创办年份 | 1992年 |
年文章数 | 186 |
是否开放访问 | 不开放访问 |
PubMed链接 | http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=1017-9909%5BISSN%5D |
平均审稿速度 | 网友分享经验:平均4.0个月 |
平均录用比例 | 网友分享经验:容易 |
历年影响因子 |