期刊：Ieee Des Test Comput
| 期刊ISSN | 0740-7475 |
| 期刊全称 | Ieee Design & Test Of Computers |
| 期刊缩写 | Ieee Des Test Comput |
| 影响因子 | 0.000 |
| 自 引 率 | 100.00% |
| SCI 收录情况 | |
| ESI 学科分类 | 暂无分类（No catagory） |
| 中科院大类分区 | 暂无分类：0区 |
| 中科院小类分区 | |
| 是否Top期刊 | 否 |
| 是否综述期刊 | 否 |
| 官方网站 | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=54 |
| 投稿网站 | https://mc.manuscriptcentral.com/dt-cs |
| 通讯地址 | Ieee Computer Soc, 10662 Los Vaqueros Circle, Po Box 3014, Los Alamitos, Usa, Ca, 90720-1314 |
| 所属国家 | United States |
| 出版周期 | Bimonthly |
| 创办年份 | 1984年 |
| 年文章数 | 41 |
| 是否开放访问 | 不开放访问 |
| PubMed链接 | http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0740-7475%5BISSN%5D |
| 平均审稿速度 | 网友分享经验：>12周，或约稿 |
| 平均录用比例 | 网友分享经验：较易 |
| 历年影响因子 |