期刊：J Electron Microsc
| 期刊ISSN | 0022-0744 |
| 期刊全称 | Microscopy |
| 期刊缩写 | J Electron Microsc |
| 影响因子 | 0.000 |
| 自 引 率 | 100.00% |
| SCI 收录情况 | SCI收录; SCIE收录; |
| ESI 学科分类 | 暂无分类（No catagory） |
| 中科院大类分区 | 工程技术：3区 |
| 中科院小类分区 | 显微镜技术 4区 |
| 是否Top期刊 | 否 |
| 是否综述期刊 | 否 |
| 官方网站 | |
| 投稿网站 | |
| 通讯地址 | Oxford Univ Press, Great Clarendon St, Oxford, England, Ox2 6dp |
| 所属国家 | Japan |
| 出版周期 | Bimonthly |
| 创办年份 | 1953年 |
| 年文章数 | 52 |
| 是否开放访问 | 不开放访问 |
| PubMed链接 | http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0022-0744%5BISSN%5D |
| 平均审稿速度 | 网友分享经验：>12周，或约稿 |
| 平均录用比例 | 网友分享经验：容易 |
| 历年影响因子 |