期刊：J Electron Test
| 期刊ISSN | 0923-8174 |
| 期刊全称 | Journal Of Electronic Testing-theory And Applications |
| 期刊缩写 | J Electron Test |
| 影响因子 | 0.647 |
| 自 引 率 | 21.20% |
| SCI 收录情况 | SCIE收录; |
| ESI 学科分类 | 工程科学（Engineering） |
| 中科院大类分区 | 工程技术：4区 |
| 中科院小类分区 | 工程：电子与电气 4区 |
| 是否Top期刊 | 否 |
| 是否综述期刊 | 否 |
| 官方网站 | http://www.springer.com/engineering/circuits+%26+systems/journal/10836 |
| 投稿网站 | https://www.editorialmanager.com/jett/default.aspx |
| 通讯地址 | Springer, Van Godewijckstraat 30, Dordrecht, Netherlands, 3311 Gz |
| 所属国家 | United States |
| 出版周期 | Bimonthly |
| 创办年份 | 0年 |
| 年文章数 | 57 |
| 是否开放访问 | 不开放访问 |
| PubMed链接 | http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0923-8174%5BISSN%5D |
| 平均审稿速度 | 网友分享经验：较慢,6-12周 |
| 平均录用比例 | 网友分享经验：容易 |
| 历年影响因子 |