期刊：Microelectron Reliab
| 期刊ISSN | 0026-2714 |
| 期刊全称 | Microelectronics Reliability |
| 期刊缩写 | Microelectron Reliab |
| 影响因子 | 1.371 |
| 自 引 率 | 17.80% |
| SCI 收录情况 | SCI收录; SCIE收录; |
| ESI 学科分类 | 工程科学（Engineering） |
| 中科院大类分区 | 工程技术：4区 |
| 中科院小类分区 | 工程：电子与电气 4区 纳米科技 4区 物理：应用 4区 |
| 是否Top期刊 | 否 |
| 是否综述期刊 | 否 |
| 官方网站 | http://www.journals.elsevier.com/microelectronics-reliability/ |
| 投稿网站 | http://ees.elsevier.com/mr/ |
| 通讯地址 | Pergamon-elsevier Science Ltd, The Boulevard, Langford Lane, Kidlington, Oxford, England, Ox5 1gb |
| 所属国家 | England |
| 出版周期 | Monthly |
| 创办年份 | 1964年 |
| 年文章数 | 419 |
| 是否开放访问 | 不开放访问 |
| PubMed链接 | http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0026-2714%5BISSN%5D |
| 平均审稿速度 | 网友分享经验：较快,2-4周 来源Elsevier官网：平均8.3周 |
| 平均录用比例 | 网友分享经验：容易 |
| 历年影响因子 |