期刊:Ieee T Reliab
期刊ISSN | 0018-9529 |
期刊全称 | Ieee Transactions On Reliability |
期刊缩写 | Ieee T Reliab |
影响因子 | 2.790 |
自 引 率 | 18.30% |
SCI 收录情况 | SCIE收录; |
ESI 学科分类 | 工程科学(Engineering) |
中科院大类分区 | 工程技术:3区 |
中科院小类分区 | 计算机:硬件 2区 计算机:软件工程 2区 工程:电子与电气 3区 |
是否Top期刊 | 否 |
是否综述期刊 | 否 |
官方网站 | http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=24 |
投稿网站 | https://mc.manuscriptcentral.com/tr-ieee |
通讯地址 | Ieee-inst Electrical Electronics Engineers Inc, 445 Hoes Lane, Piscataway, Usa, Nj, 08855-4141 |
所属国家 | United States |
出版周期 | Quarterly |
创办年份 | 0年 |
年文章数 | 149 |
是否开放访问 | 不开放访问 |
PubMed链接 | http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0018-9529%5BISSN%5D |
平均审稿速度 | 网友分享经验:平均4.5个月 |
平均录用比例 | 网友分享经验:较易 |
历年影响因子 |